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MOSFET柵極電壓對電流的影響-MOSFET柵極應用電路深度剖析-KIA MOS管

信息來源:本站 日期:2018-12-08 

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MOSFET柵極簡介

MOSFET柵極,場效應管根據(jù)三極管的原理開發(fā)出的新一代放大元件,有3個極性,柵極,漏極,源極,它的特點是柵極的內(nèi)阻極高,采用二氧化硅材料的可以達到幾百兆歐,屬于電壓控制型器件。場效應晶體管(FieldEffectTransistor縮寫(FET))簡稱場效應管。由多數(shù)載流子參與導電,也稱為單極型晶體管。它屬于電壓控制型半導體器件。


MOSFET柵極常見電路

1:去除電路耦合進去的噪音,提高系統(tǒng)的可靠性。


2:加速MOSFET的導通,降低導通損耗。


3:加速MOSFET的關(guān)斷,降低關(guān)斷損耗。


4:降低MOSFET DI/DT,保護MOSFET同時抑制EMI干擾。


5:保護柵極,防止異常高壓條件下柵極擊穿。


6:增加驅(qū)動能力,在較小的信號下,可以驅(qū)動MOSFET。


(一)直接驅(qū)動

首先說一下電源IC直接驅(qū)動,下圖是我們最常用的直接驅(qū)動方式,在這類方式中,我們由于驅(qū)動電路未做過多處理,因此我們進行PCB  LAYOUT時要盡量進行優(yōu)化。如縮短IC至MOSFET的柵極走線長度,增加走線寬度,盡量將Rg放置在離MOSFET柵極較進的位置,從而達到減少寄生電感,消除噪音的目的。

MOSFET柵極


當然另一個問題我們得考慮,那就是PWM  CONTROLLER的驅(qū)動能力,當MOSFET較大時,IC驅(qū)動能力較小時,會出現(xiàn)驅(qū)動過慢,開關(guān)損耗過大甚至不能驅(qū)動的問題,這點我們在設計時需要注意。


(二)IC內(nèi)部驅(qū)動能力不足時

當然,對于IC內(nèi)部驅(qū)動能力不足的問題我們也可以采用下面的方法來解決。

MOSFET柵極


這種增加驅(qū)動能力的方式不僅增加了導通時間,還可以加速關(guān)斷時間,同時對控制毛刺及功率損耗由一定的效果。當然這個我們在LAYOUT時要盡量將這兩個管子放的離MOSFET柵極較近的位置。這樣做的好處還有減少了寄生電感,提高了電路的抗干擾性。


(三)增加MOSFET的關(guān)斷速度

如果我們單單要增加MOSFET的關(guān)斷速度,那么我們可以采用下面的方式來進行。

MOSFET柵極


關(guān)斷電流比較大時,能使MOSFET輸入電容放電速度更快,從而降低關(guān)斷損耗。大的放電電流可以通過選擇低輸出阻抗的MOSFET或N溝道的負的截止的電壓器件來實現(xiàn),最常用的就是加加速二極管。

柵極關(guān)斷時,電流在電阻上產(chǎn)生的壓降大于二極管導通壓降時,這時二極管會導通,從而將電阻進行旁路,導通后,隨著電流的減小,二極管在電路中的作用越來越小,該電路作用會顯著的減小MOSFET關(guān)斷的延遲時間。


(四)PNP加速關(guān)斷驅(qū)動電路

PNP加速關(guān)斷電路是目前應用最多的電路,在加速三級管的作用下可以實現(xiàn)瞬間的柵源短路,從而達到最短的放電時間,之所以加二極管一方面是保護三級管基極,另一方面是為導通電流提供回路及偏置,該電路的優(yōu)點為可以近似達到推拉的效果加速效果明顯,缺點為柵極由于經(jīng)過兩個PN節(jié),不能是柵極真正的達到0伏。

MOSFET柵極


(五)當源極輸出為高電壓時的驅(qū)動

當源極輸出為高電壓的情況時,需要采用偏置電路達到電路工作的目的,既以源極為參考點,搭建偏置電路,驅(qū)動電壓在兩個電壓之間波動,驅(qū)動電壓偏差由低電壓提供,如下圖所示。

MOSFET柵極


當然,這個圖有點問題,不知道大家看出來來了嗎?


其實問題就是“驅(qū)動電源”需要懸浮,下面就是正確的電路如,供各位參考。

MOSFET柵極


(六)滿足隔離要求的驅(qū)動

為了滿足安全隔離的要求或者提供高端浮動柵極驅(qū)動經(jīng)常會采用變壓器驅(qū)動。這種驅(qū)動將驅(qū)動控制和MOSFET進行了隔離,可以應用到低壓及高壓電路中去,如下圖所示

MOSFET柵極


變壓器驅(qū)動說白了就是隔離驅(qū)動,當然現(xiàn)在也有專門的驅(qū)動IC可以解決,但變壓器驅(qū)動有自己的特點使得很多人一直在堅持用。


圖中耦合電容的作用是為磁化的磁芯提供復位電壓,如果沒有這個電容,會出現(xiàn)磁飽和。


與電容串聯(lián)的電阻的作用是為了防止占空比突然變化形成LC的震蕩,因此加這個電阻進行緩解。


(七)自舉逆變圖

下面是一個實際的自舉逆變圖,供參考。

MOSFET柵極


MOSFET柵極電壓對電流的影響

MOSFET柵極


圖中顯示的是電子密度的變化。閾值電壓在0.45V左右。


FET通過影響導電溝道的尺寸和形狀,控制從源到漏的電子流(或者空穴流)。溝道是由(是否)加在柵極和源極的電壓而創(chuàng)造和影響的(為了討論的簡便,這默認體和源極是相連的)。導電溝道是從源極到漏極的電子流。


耗盡模式

在一個n溝道"耗盡模式"器件,一個負的柵源電壓將造成一個耗盡區(qū)去拓展寬度,自邊界侵占溝道,使溝道變窄。如果耗盡區(qū)擴展至完全關(guān)閉溝道,源極和漏極之間溝道的電阻將會變得很大,F(xiàn)ET就會像開關(guān)一樣有效的關(guān)閉(如右圖所示,當柵極電壓很低時,導電溝道幾乎不存在)。類似的,一個正的柵源電壓將增大溝道尺寸,而使電子更易流過(如右圖所示,當柵極電壓足夠高時,溝道導通)。


增強模式

相反的,在一個n溝道"增強模式"器件中,一個正的柵源電壓是制造導電溝道所必需的,因為它不可能在晶體管中自然的存在。正電壓吸引了體中的自由移動的電子向柵極運動,形成了導電溝道。但是首先,充足的電子需要被吸引到柵極的附近區(qū)域去對抗加在FET中的摻雜離子;這形成了一個沒有運動載流子的被稱為耗盡區(qū)的區(qū)域,這種現(xiàn)象被稱為FET的閾值電壓。更高的柵源電壓將會吸引更多的電子通過柵極,則會制造一個從源極到漏極的導電溝道;這個過程叫做"反型"。


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